本文介绍UL1557相关要求及测试， 以及申请UL认证所需提供信息。

现行标准

见下图标准更新历史， 目前采用第6版， 更新日期为2018年3月19日。

产品类别

 

UL指定的产品类别为 QQQX2。

先介绍UL1557中几个定义， 以及通常要求。

绝缘材料- 在带电体与散热片之间， 或者直接接触带电体的材料， 用于提供绝缘作用。 包括外壳， 环氧， 硅胶等， 通常外壳和环氧需使用已有UL认证的材料， 但硅胶无特别规定。

壳温- 半导体零件或封装外部温度， 通常在厂商制定的规格书中需提供壳温曲线。

结温- 由厂商指定的半导体最大结温。通常这个温度， 也被当作绝缘材料的工作温度。

存储温度- 由厂商指定的， 不带电状况下， 可接受的半导体存储温度。

 

测试项目

 

使用UL1557这本标准评估半导体类产品的安全性， 在结构审核完成后， 主要通过高低温老化之后耐压来评估， 主要有2个测试：

 

耐压测试 -

根据厂商指定的耐压值， 在高低温环境中取出后，立即施加48~62 Hz的交流高压， 60秒， 判断是否通过测试。

高低温环境以及样品数量分别为：

a) 6个样品， 常温条件下。

b) 6个样品， 最大节温下存放7小时。

c）6个样品， 0.0±2.0°C下存放7小时。

 

热老化试验 -

老化时间以及老化温度， 通过查询UL1557中的下图来确定：

这一测试， 对老化箱有特殊要求， 须符合ANSI/ASTM D5423中规定的Type II类老化箱， 并且测试方法须符合ANSI/ASTM D5374的要求。 特别提出的一点是换气量， 100-200 体积每小时。

对于安规评估， 测试看似简单，但失败风险也存在。 首先产品在制造过程中， 需要采用UL认证过的且材料性能可靠的塑料， 封装工艺也需要稳定控制； 其次， 热老化条件的选择，需要考虑到产品耐温特性以及时间成本， 通常选择300小时老化。